原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope,簡(jiǎn)稱AFM)是一項(xiàng)重要的納米技術(shù),它能夠幫助科學(xué)家觀測(cè)和測(cè)量微觀世界中的物質(zhì)和表面特征。通過(guò)使用原子力顯微鏡,我們能夠更深入地研究納米尺度上的物質(zhì)行為,從而為實(shí)現(xiàn)納米科技的進(jìn)一步發(fā)展提供支持和指導(dǎo)。 原子力顯微鏡的工作原理可以簡(jiǎn)單地概括為在掃描探針與樣品表面之間施加一定的力,然后測(cè)量探針的位置變化。通過(guò)控制和記錄力的大小和探針的位置